日本電子株式會(huì)社去年11月份初在第九屆亞太電鏡大會(huì)上發(fā)布了最新一代球差過(guò)濾一體化透射電鏡JEM-ARM200F。它的加速電壓為200kV，分辨率可達(dá)0.08nm，搭載一體化STEM球差過(guò)濾器，還可以加裝TEM球差過(guò)濾器，操作簡(jiǎn)單，是目前為止分辨率最高的商業(yè)化透射電子顯微鏡。透射電子顯微鏡是材料科學(xué)領(lǐng)域最重要的研究工具之一，透射電鏡使用的是磁透鏡，而球差一直被喻為透射電鏡的“天敵”，解決球差問(wèn)題就可以大大提高透射電鏡的分辨率并能大大增強(qiáng)對(duì)材料的綜合分析能力。球差過(guò)濾透射電鏡是目前世界上最先端的透射電鏡，分為STEM球差過(guò)濾器和TEM球差過(guò)濾器兩種，其中STEM球差過(guò)濾器在可以提高STEM分辨率的同時(shí)，進(jìn)行原子級(jí)的成分分析。TEM球差過(guò)濾器則可大大提高TEM圖像的分辨率。日本電子株式會(huì)社近年來(lái)在球差過(guò)濾透射電鏡方面的研究，始終在走在世界的最前面，獲得了大量的可靠數(shù)據(jù)。JEM-ARM200F的出現(xiàn)，必將為材料科學(xué)和電子顯微學(xué)的發(fā)展起到更大的推進(jìn)作用。JEM-ARM200F2009年4月全球開始接受訂單，詳情請(qǐng)咨詢?nèi)毡倦娮又晔綍?huì)社各地辦事處。