日本電子株式會社去年11月份初在第九屆亞太電鏡大會上發布了最新一代球差過濾一體化透射電鏡JEM-ARM200F。它的加速電壓為200kV，分辨率可達0.08nm，搭載一體化STEM球差過濾器，還可以加裝TEM球差過濾器，操作簡單，是目前為止分辨率最高的商業化透射電子顯微鏡。透射電子顯微鏡是材料科學領域最重要的研究工具之一，透射電鏡使用的是磁透鏡，而球差一直被喻為透射電鏡的“天敵”，解決球差問題就可以大大提高透射電鏡的分辨率并能大大增強對材料的綜合分析能力。球差過濾透射電鏡是目前世界上最先端的透射電鏡，分為STEM球差過濾器和TEM球差過濾器兩種，其中STEM球差過濾器在可以提高STEM分辨率的同時，進行原子級的成分分析。TEM球差過濾器則可大大提高TEM圖像的分辨率。日本電子株式會社近年來在球差過濾透射電鏡方面的研究，始終在走在世界的最前面，獲得了大量的可靠數據。JEM-ARM200F的出現，必將為材料科學和電子顯微學的發展起到更大的推進作用。JEM-ARM200F2009年4月全球開始接受訂單，詳情請咨詢日本電子株式會社各地辦事處。